东莞so2与盐雾太阳辐射测试代理机构 第三方检测机构

gjb150.7A太阳辐射试验（灯暴露试验、碳弧灯暴露试验、卤素灯暴露试验）加热效应主要是由太阳辐射能中红外光谱部分产生的，主要引起产品短时高温和局部过热造成一些对温度敏感的元器件失效，结构材料的机械破坏和绝缘材料的讨热损坏等。
电子电器产品的高低温测试分为高低温存储测试和高低温运行测试。高低温存储是产品不上电，在非工作状态下进行测试。高低温运行是给产品供电，在产品工作状态下进行测试。

冷热冲击测试定义：冷热冲击测试又名温度冲击测试或高低温冲击测试，是用于考核产品对周围环境温度急剧变化的适应性，是装备设计定型的鉴定测试和批产阶段的例行测试中不可缺少的测试，在有些情况下也可以用于环境应力筛选测试。可以说冷热冲击测试箱在验证和提高装备的环境适应性方面应用的频度仅次于振动与高低温测试。
常见的执行标准：1、GJB150-86《设备环境测试方法》2、GB 2423《电工电子产品基本环境测试规程》3、标MIL－STD－810F《环境工程考虑和实验室测试》

冷热冲击试验箱用于测试材料结构或复合材料，在瞬间下经高温及低温的连续环境下忍受的程度，得以在短时间内检测试样因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。本机分为高温区、低温区、及测试区三部分，利用特的回路设计，将冷热风路导入测试槽，做冷热冲击试验。适用对象包括金属、塑料、橡胶、电子等材料，可作为其产品改进的依据或参考。

冷热冲击测试常见标准与测试要求；实验要求：起始温度要求：虽然一般的冷热冲击测试标准中对冷热冲击测试的起始温度不予提及或不做硬性规定，但这却是测试进行时必须考虑的问题，因为涉及到测试是结束在低温还是高温状态，从而决定了是否需要对产品进行烘干，导致延长测试时间。
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