上海三综合试验办理方式 第三方检测机构

电子产品通过进行可靠性测试，可以确定电子产品在各种环境条件下工作或存储时的可靠性特征量，为设计、生产和使用提供有用的数据。也可以暴露产品在设计、原材料和工艺流程等方面存在的问题。
冷热冲击测试结束在低温标准受试产品从冷热冲击测试箱（室）内取出后，应在正常的测试大气条件下进行恢复，直到样品到到达温度稳定，这一操作难免使测试样品表面产生凝露引入温度对产品的影响。从而改变测试的性质。在GBJ150实施指南中提出，为了这一影响避免长时间恢复延长测试实施时间，可将样品在50的高温箱中恢复，待凝露干后再在常温中达到温度稳定。

高低温测试对测试的具体温度、高温和低温各自保持的时间、升温和降温的时间、测多少个周期等没有固定的标准，委托方可以自己制定企业内部标准，或按客户要求制定测试条件。制定测试条件时可参考产品实际的存储环境、运输环境及使用环境等。常做的温度是-30至70°C，温度保持时间2小时至8小时不等，变温时长一般半小时以内，循环周期4至20个周期不等。

冷热冲击测试常见标准与测试要求；实验要求：起始温度要求：虽然一般的冷热冲击测试标准中对冷热冲击测试的起始温度不予提及或不做硬性规定，但这却是测试进行时必须考虑的问题，因为涉及到测试是结束在低温还是高温状态，从而决定了是否需要对产品进行烘干，导致延长测试时间。

电子电器产品的高低温测试分为高低温存储测试和高低温运行测试。高低温存储是产品不上电，在非工作状态下进行测试。高低温运行是给产品供电，在产品工作状态下进行测试。
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